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作者:James Bender/Jeff McWherter
出版社: 清华大学出版社
原作名: Professional Test Driven Development with C#: Developing Real World Applications with TDD
译者:贾洪峰/李菊彦
出版年: 2012-3
页数: 301
定价: 58.00元
ISBN: 9787302279716

内容简介 · · · · · ·

《C#测试驱动开发》分为通向测试驱动开发之路、单元测试简介、重构速览、模拟外部资源、启动示例应用程序等内容。《C#测试驱动开发》描述常见的软件问题,并提供了解决这些问题的重构实践；展示了可用于测试WPF和Silverlieht应用程序的模式；在修复缺陷时,确保不会导致意料之外的剐作用；展示如何构建具有有可测试性的MVC应用程序；共享可用于测试WCF服务的简易步骤。

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发布者：李埼玉

文件说明：zip / 解压密码:electro-lviv.com

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